| Цоурсе Титле | Цхарацтеризатион оф Семицондуцторс | ||||||||||||||
| Фацултy
|
Сцхоол оф Цомпутинг | ||||||||||||||
| Студy Программе
|
Цомпутер Енгинееринг – доцторал студиес | ||||||||||||||
| Профессор | Јелена Трајић | Цонтацт (е-маил аддресс) | јелена.трајиц@ипб.ац.рс | ||||||||||||
| Цоде | 14.9145
|
Цоурсе левел | Доцторал | ЕЦТС цредитс | 15 | ||||||||||
|
Десцриптион (маx. 100 wордс) |
Ревиеw оф семицондуцтор тецхнологиес. Струцтурал цхарацтеризатион. X-раy диффрацтион(XРД), лоw енергy елецтрон диффрацтион(ЛЕЕД), рефлецтиве диффрацтион оф хигх-енергy елецтронс (Рхееде), атомиц фор цемицросцопy(АФМ), сцаннинг туннелинг мицросцопy(СТМ), сцаннинг елецтрон мицросцопy(СЕМ), трансмиссион елецтрон мицросцопy(ТЕМ), спецтросцопy wитх феедбацк Рутхерфорд сцаттеринг(РБС), енергy дисперсиве X-раy аналyсис (ЕДX), Аугерелецтрон спецтросцопy(АЕС) спецтросцопy басед он елецтрон енергy лосс (ЕЕЛС), масс спецтросцопy емиссион оф сецондарy ионс (СИМС), пхотоелецтрон спецтросцопy басед он X-раy(XПС). Елецтрицал цхарацтеризатион: меасуремент оф ресистанце, Халл еффецт меасуремент, меасуремент оф цуррент-волтаге анд цапацитиве-волтаге цхарацтеристицс, дееп трансиент спецтросцопy(ДЛТС). Оптицал цхарацтеризатион. Тхе оптицал трансмиттанце, еллипсометрy, пхотолуминесценце, Раман спецтросцопy, инфраред спецтросцопy wитх Фоуриер трансформатион. | ||||||||||||||
|
Леарнинг оутцомес (маx. 50 wордс) |
Оптицал, анд елецтрицал цхарацтеризатион оф семицондуцторс. Усе оф X-раy аналyсис, спецтросцопy, спецтросцопy емиссион оф сецондарy ионс (СИМС), фор фуртхер сциентифиц wорк. | ||||||||||||||
| Семестер
|
2 | Маxимум нумбер оф виситинг студентс | 3 | ||||||||||||
| Лангуаге | Сербиан, Енглисх | Аваилабле фор интернатионал студентс (YЕС ор НО) | YЕС | ||||||||||||
Абоут тхе Аутхор:
Леаве А Цоммент
Yоу муст бе логгед ин то пост а цоммент.